西安功率器件测试服务实验室 长禾半导体

西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市**经济开发区，是一家专业从事功率半导体器件测试服务的**企业，是国家CNAS 认可实验室，属于国家大功率器件测试服务中心。
长禾实验室拥有尖端的系统设备、专业的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套，专业测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准，以客户需求为导向，不断创新服务项目和检测技术，借助便利的服务网络，为合作伙伴提供优质高效的技术服务。
长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、**院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是*三代半导体（宽禁带半导体）应用解决方案服务商。
长禾实验室秉承创新务实的经营理念，为客户提供优质的服务、完善的解决方案及*的技术支持；同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流，测试技术与服务水平不断提升。
诚信立世，感恩回馈，欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴，共谋发展大计！
功率金属氧化物场效应管	
                1	漏源间反向击穿电压	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3407.1
				半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3407
		2	通态电阻	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3421.1
		3	阈值电压	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3404
		4	漏较反向电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3415.1
		5	栅较漏电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3411.1
		6	体二极管压降	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4011.4
		7	跨导	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3475.2
		8	开关时间	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3472.2
		9		半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3472
		10	体二极管反向恢复时间	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1
		11	体二极管反向恢复电荷	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1
		12	栅较电荷	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3471.3
		13	单脉冲雪崩能量	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3470.2
		14	栅较串联等效电阻	功率MOSFET栅较串联等效电阻测试方法 JESD24-11:1996(R2002)
		15	稳态热阻	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3161.1
		16		半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3161
		17	输入电容	半导体器件 分立器件 *8部分：场效应晶体管 IEC 60747-8:2010 6.3.10
		18	输出电容	半导体器件 分立器件 *8部分：场效应晶体管 IEC 60747-8:2010 6.3.11
		19	反向传输电容	半导体器件 分立器件 *8部分：场效应晶体管 IEC 60747-8:2010 6.3.12
		20	老炼试验	半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1042
		21		温度，反偏和操作寿命试验 JESD22-A108F:2017
		22	间歇功率试验	半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1042
		23	稳态功率试验	半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1042