检测项目 | 覆盖产品 | 检测能力 | 参考标准 |
高低温循环试验(TC) | MOSFET、IGBT、IDIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模块、*半导体器件等产品及其他电子产品 | 温度范围:-80℃~220℃ | 美**,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等 |
专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位院所、工业控制、船舶、航空**、新能源汽车等行业。也是*三代半导体(宽禁带半导体)应用解决方案服务商。