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检测项目 | 覆盖产品 | 检测能力 | 参考标准 | |||
高加速应力试验(HAST) | MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及*三代半导体器件等产品及其他电子产品 | 温度130℃/110℃ 湿度85% | 美**,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等 | |||
专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、院所、工业控制、船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是*三代半导体(宽禁带半导体)应用解决方案服务商。